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技术问答BLNKK 编辑整理

功率引线键合脱离与线弧根部疲劳：下一轮应如何设计对照？

引线键合电性路径如何对准键合点／线弧根部与正常接点？

引线键合脱离线弧根部裂纹电性与断口对准

问题背景与判读重点

BLNKK 公开资料整理

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  • 引线键合电性路径如何对准键合点／线弧根部与正常接点？
  • 原始、开封及分段样品能否说明制备和局部负荷限制？
  • 键合、几何与拉力／剪切加载模式如何做同结构对照？
参考来源Zeng et al. / Infineon author repository：First results of development of a lifetime model for transfer molded discrete power devices ↗
待补充的技术问答
  • 引线键合电性路径如何对准键合点／线弧根部与正常接点？
  • 原始、开封及分段样品能否说明制备和局部负荷限制？
  • 键合、几何与拉力／剪切加载模式如何做同结构对照？

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