FOX-XP 晶圆／裸芯片／模块老化与测试
在高成本先进封装集成前筛出逻辑、存储器、光子或功率芯片的早期失效，并在晶圆、面板、单颗裸芯片或模块层级进行高温高功率可靠性筛选。
官方网站 ↗
SOLUTION RANK基于公开资料整理的公司页面
Aehr Test Systems
能力与应用
可靠性验证与失效分析、工艺设备与温度控制、封装结构与变形补偿
可靠性验证与失效分析工艺设备与温度控制封装结构与变形补偿
01
相关方案
02
相关问题
尚未收录与该企业相关的技术问题。
OFFICIAL SUPPLIER ANSWERS