RM3545A Kelvin 電阻比較
HIOKI · 工程量測與特性分析
- 方案用途
- RDL 接點或配線的電阻變化，需要在可比較的接線與溫度條件下量測。
- 技術方式
- RM3545A 採直流四端量測，搭配熱電動勢的偏移電壓補償、接觸檢查與參考溫度校正。
- 適用範圍
- 供可接近四端量測端點的試片；量程、電流、探針與治具須配合被測結構，多通道能力依機型及選配。
- 限制與待確認事項
以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議，並非原廠保證或必備資料清單。
適用邊界四端量測不能自行分離所有試片配線貢獻；單一讀值不能定位特定微孔，解析度亦不等於整體不確定度。
評估準備BLNKK 建議準備 Kelvin 端點與參考結構、預期電阻、允許電流及溫度條件，評估自熱與治具重複性。
向供應商確認請確認合適的電流／低功率設定、探針及治具、補償方式與不確定度；多通道測試另核對型號及選配。
- 公開依據
- 官方頁與資訊截至 2025 年 7 月的型錄說明量測方式、電流設定，以及代表性精度的條件。
補充參考資料
聯絡供應商
查看公司聯絡資訊，透過官方管道詢問此方案。
相關工程問題
以下連結來自已建立的方案關係，可接續查看工程條件與評估準備。
資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案；方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。