MAP-300 光纖陣列測試系統
候選工程用途：【CPO 光纖貼裝對準損耗】比較光纖貼裝對位與耦合損耗。
研究候選・適用條件待確認
原廠公開頁面；樣品適用性尚未確認。
研究查核日期: 2026-10-15VIAVI Solutions
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