问题背景与判读重点
BLNKK 公开资料整理先确认测试可观测性及接触与热边界，再比较 ATE、SLT 和受控老化筛选
- 保存原始通过／失败、电性指标及对照器件；不能只比较最终良率。
- 确认夹具、插座或探针、测量范围及测试覆盖；ATE 和 SLT 不能视为相同测试。
- 设定温度不等于结温；保留自热、冷却、电压及安全限制。
技术问答BLNKK 编辑整理
封装 SoC 在高温工作负载测试中失效，如何排除接触与冷却影响？
先核对失效模式、测试覆盖、接触及实际器件温度，再准备可重复的功能测试与失效定位。
器件功能／老化及应力测试异常
- 封装 SoC 在高温工作负载测试中失效，如何排除接触与冷却影响？
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