你的方案地图
器件功能／老化及应力测试异常
先确认 BLNKK 对问题的理解，再掌握优先路线、候选方案与仍缺的条件。
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先确认问题理解，再决定深入评估哪些方案。
3优先路线5候选方案5已整理来源
BLNKK 对问题的当前理解
请确认内容- 对象与结构
- SoC、裸芯片或异构集成器件及其测试接口；按实际测试区分封装前后阶段
- 发生阶段
- 电性筛选、老化筛选、系统级测试及受控温度负载
- 可观察现象
- 特定工作负载、温度或电压下功能失效、测试漏检或电性漂移
- 工程决策
- 先确认测试可观测性及接触与热边界，再比较 ATE、SLT 和受控老化筛选
优先评估路线
各路线用途不同，可搭配使用01
失效模式与测试可观测性将失效时间点、工作负载及测试覆盖对齐，找出 ATE、SLT 或老化筛选的观测缺口。
优先02
实际温度、供电及应力控制核对实际器件温度、供电及冷却，再比较相同应力下的电性变化。
优先03
接触对照与目标失效定位用失效及正常器件和接触复测对照，确定下一轮失效定位的样品及目标。
优先目前候选方案
样品适用性仍待确认直接候选方案FOX-XP 晶圆／裸芯片／模块老化与测试Aehr Test Systems· 可协助回答：晶圆、裸晶及模组的通电测试与老炼平台，可记录受控应力下的电性漂移或失效；需排除接触与应力设定误差。
→配套分析与测量T-Core 大功率 IC 主动温控测试系统Cohu· 可协助回答：元件功率或二极体回授温控，可协助排除测试中的非预期结温偏移；它是应力控制元件，需搭配完整电测。
→直接候选方案AMPS 高功率并行老化测试AEM Holdings· 可协助回答：以器件独立控制的高电压应力与热管理比较 burn-in 筛选；不等同功率循环热阻测量。
→下一步：确认工程条件用 4 个关键条件调整评估顺序，再选择要比较的方案。
进入工程条件 →