问题背景与判读重点
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- 测量是否分开局部露铜高度与全片形貌?
- 薄化、蚀刻与 endpoint 可否按位置比较?
- 下一段金属/接合目标与 Cu/liner 限制为何?
SOLUTION NAVIGATOR先建立相对硅面高度与同位置分段测量,避免只看终点选蚀刻或 CMP。
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