LUMOS II FT-IR 残留材料辨识

Bruker · 翘曲、形貌与应力测量

方案用途: 残留物与胶材的化学组成不明时，可先比较红外光谱，缩小后续清洗与材料核查的方向。
技术方式: LUMOS II 通过红外吸收光谱进行局部测量或化学成像；FT-IR 配置可采用 ATR、透射或反射模式。
适用范围: 适用于光谱信号可辨识的聚合物、薄膜和有机污染；测量模式、探测器及样品可达性需要匹配。
限制与待确认事项: 以下为 BLNKK 根据公开资料整理的评估建议，并非原厂保证或必备资料清单。
适用边界
基材、混合物或老化可能使光谱难以唯一识别；ATR 接触也可能影响样品。FT-IR、FPA 与红外激光成像配置的波段／模式不同，光谱结果不直接代表洁净度合格。
评估准备
BLNKK 建议准备残留位置和尺寸、基材信息、未污染对照及已知胶材／固化参考，并说明是否需要保留样品。
向供应商确认
请确认配置、波段和模式、参考光谱库、ATR 接触条件，以及是否需要单独定量校准或结合其他分析。
公开依据: 官方产品页列出污染与聚合物分析；2020 年网络研讨会页面介绍未知污染案例，本次未观看录像。

补充参考资料

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