16502 四线互连电阻比较
Chroma ATE · 几何与电性能测量
- 方案用途
- 比较 RDL 通孔或串联测试链电阻时，需要降低引线和接触压降对结果的影响。
- 技术方式
- 16502 采用四线制测量低电阻，可按需求选择 DC、正负脉冲或低激励的 dry-circuit 模式。
- 适用范围
- 适用于可分别连接电流端与电压感测端、且激励条件及测量范围经过验证的导体或互连试样。
- 限制与待确认事项
以下为 BLNKK 根据公开资料整理的评估建议，并非原厂保证或必备资料清单。
适用边界串联链电阻不能自动分解为单个通孔电阻，最低显示范围也不等于单孔分辨能力。接触、热电势和温升仍需控制。
评估准备BLNKK 建议整理试样接点图、串联数量、预期电阻、允许测试电流、夹具及温度记录。
向供应商确认确认四线制接法、调零与重复性、脉冲／dry-circuit 条件，以及温度补偿方法和所需选配。
- 公开依据
- Chroma 说明四线制测量、脉冲热电势消除和温度补偿；温度探头及多通道扫描器为选配。
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相关工程问题
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资料由 BLNKK 根据公开来源整理。公司资料不代表已有对应方案；方案适用性仍需结合实际样品和工程条件确认。