11050 去耦元件阻抗测量
Chroma ATE · 工程测量与失效分析
- 方案用途
- 比较去耦元件时，可测量阻抗与损耗，为供电网络分析提供元件数据。
- 技术方式
- 11050 系列采用交流 LCR 测量被动元件，提供阻抗相关参数及开路／短路归零、负载校正功能。
- 适用范围
- 适用于可接触的电容、电感等元件；11050 频带为 1 kHz–10 MHz，其他型号和偏置选项应分别确认。
- 限制与待确认事项
以下为 BLNKK 根据公开资料整理的评估建议，并非原厂保证或必备资料清单。
适用边界最高 30 MHz 属于 11050-30M，不能套用到原 11050；偏置源也有自身条件。元件 LCR 结果不代表完整封装／板级 PDN 已验证。
评估准备BLNKK 建议整理元件、工作频带、信号幅度、偏置及温度，并准备夹具校准和寄生影响的对照数据。
向供应商确认确认型号及频带、偏置源与夹具兼容性，以及校正、低阻抗测量误差和数据导出方式。
- 公开依据
- Chroma 官方页面列出各型号频带、测量参数、校正与偏置配置，并说明电容 ESR 及电源电感用途。
联系供应商
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相关工程问题
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资料由 BLNKK 根据公开来源整理。公司资料不代表已有对应方案；方案适用性仍需结合实际样品和工程条件确认。