R-1515V 低 CTE 应力缓冲 FC-BGA 基板材料
Panasonic Industry · 材料参数与界面设计
- 方案用途
- CPU、GPU、FPGA 和 ASIC 的 FC-BGA 封装需要控制翘曲,同时减轻封装与主板热膨胀差异在组装时对焊球造成的应力。
- 技术方式
- R-1515V 使用低热膨胀玻纤布降低基板芯材的 CTE,并通过树脂柔顺性和应力松弛设计,兼顾封装变形与板级组装应力。
- 适用范围
- 厂商列出的用途包括 CPU、GPU、FPGA 和 ASIC 的 FC-BGA 基板。建议结合实际芯片尺寸、基板叠层、铜分布和主板条件评估材料选择。
- 限制与待确认事项
以下为 BLNKK 根据公开资料整理的评估建议,并非原厂保证或必备资料清单。
适用边界典型材料数据和厂商示范叠层,不能直接作为实际封装的翘曲或焊球寿命保证。低 CTE 与柔顺性的效果,仍需结合基板、芯片及主板共同评估。
评估准备建议整理芯片和封装尺寸、基板芯材厚度及叠层、铜分布、回流焊曲线,以及现有翘曲和焊球失效数据,便于比较更换材料前后的影响。
向供应商确认确认可供应的厚度和规格、温度相关材料及应力松弛数据,以及工艺兼容性。询问能否支持实际叠层的仿真、样料和板级可靠性验证。
- 公开依据
- 2021 年发布资料说明商业化及应力松弛设计;2022 年数据表给出 R-1515V 的 x/y 方向 CTE 典型值为 3–5 ppm/°C,并注明数据不构成保证。
补充参考资料
联系供应商
查看公司联系信息,通过官方渠道咨询此方案。
相关工程问题
以下链接来自已建立的方案关系,可继续查看工程条件和评估准备。
资料由 BLNKK 根据公开来源整理。公司资料不代表已有对应方案;方案适用性仍需结合实际样品和工程条件确认。
