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R-1515V 低 CTE 应力缓冲 FC-BGA 基板材料

Panasonic Industry · 材料参数与界面设计

方案用途
CPU、GPU、FPGA 和 ASIC 的 FC-BGA 封装需要控制翘曲,同时减轻封装与主板热膨胀差异在组装时对焊球造成的应力。
技术方式
R-1515V 使用低热膨胀玻纤布降低基板芯材的 CTE,并通过树脂柔顺性和应力松弛设计,兼顾封装变形与板级组装应力。
适用范围
厂商列出的用途包括 CPU、GPU、FPGA 和 ASIC 的 FC-BGA 基板。建议结合实际芯片尺寸、基板叠层、铜分布和主板条件评估材料选择。
限制与待确认事项

以下为 BLNKK 根据公开资料整理的评估建议,并非原厂保证或必备资料清单。

适用边界

典型材料数据和厂商示范叠层,不能直接作为实际封装的翘曲或焊球寿命保证。低 CTE 与柔顺性的效果,仍需结合基板、芯片及主板共同评估。

评估准备

建议整理芯片和封装尺寸、基板芯材厚度及叠层、铜分布、回流焊曲线,以及现有翘曲和焊球失效数据,便于比较更换材料前后的影响。

向供应商确认

确认可供应的厚度和规格、温度相关材料及应力松弛数据,以及工艺兼容性。询问能否支持实际叠层的仿真、样料和板级可靠性验证。

公开依据
2021 年发布资料说明商业化及应力松弛设计;2022 年数据表给出 R-1515V 的 x/y 方向 CTE 典型值为 3–5 ppm/°C,并注明数据不构成保证。

补充参考资料

联系供应商

查看公司联系信息,通过官方渠道咨询此方案。

相关工程问题

以下链接来自已建立的方案关系,可继续查看工程条件和评估准备。

资料由 BLNKK 根据公开来源整理。公司资料不代表已有对应方案;方案适用性仍需结合实际样品和工程条件确认。