CM 离子残留测量
GEN3 Systems Limited · 封装工艺与工程验证
- 方案用途
- 湿热漏电调查需比较工艺后可萃取的离子残留，并控制取样与萃取条件。
- 技术方式
- CM 循环萃取液并测量电导率，提供 ROSE 与 PICT 方法及温度／二氧化碳补偿。
- 适用范围
- 适用于相容的板件、零件和组件；样品尺寸、表面积、液量及程序需匹配机型和方法。
- 限制与待确认事项
以下为 BLNKK 根据公开资料整理的评估建议，并非原厂保证或必备资料清单。
适用边界不能识别单个离子或埋藏 CAF；PICT 不等于全部残留总量，过度萃取也可能改变结果。
评估准备BLNKK 建议准备样品和清洗历史、表面积计算、材料相容性、空白值及对照样品，并固定萃取程序。
向供应商确认请确认所选 ROSE／PICT 方法、液体和温度控制、面积与液量、校准及测试时间的判定方法。
- 公开依据
- 官方正文和 FAQ 说明萃取控制，并区分 ROSE 与通过可重复萃取量监测工艺变化的 PICT。
联系供应商
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相关工程问题
以下链接来自已建立的方案关系，可继续查看工程条件和评估准备。
资料由 BLNKK 根据公开来源整理。公司资料不代表已有对应方案；方案适用性仍需结合实际样品和工程条件确认。