EMScanner 封装周边 EMI 相对定位
Y.I.C. Technologies Ltd. · 封装工艺与工程验证
- 方案用途
- 封装周边及走线的 EMI 调查，需要在相同工作条件下比较近场热点。
- 技术方式
- EMScannerR 的磁场探头阵列配合频谱分析仪及软件，获取频谱和空间分布。
- 适用范围
- 用于可接近的板件表面调查；应固定负载、距离和扫描设置，确认分析仪兼容性。
- 限制与待确认事项
以下为 BLNKK 根据公开资料整理的评估建议，并非原厂保证或必备资料清单。
适用边界近场图不是封装内部电流图，也不能替代正式辐射认证；热点仍需结合结构与工作条件判断。
评估准备BLNKK 建议准备板件图、可疑频段、负载和距离记录，安排同条件下的改版或屏蔽对照。
向供应商确认确认分析仪及软件、探测方向、扫描等级和时间、样品安全限制及测量校验方式。
- 公开依据
- 具名页面列出扫描、图像叠加及比较；系列页区分 R 和内置分析仪的型号。
补充参考资料
联系供应商
查看公司联系信息，通过官方渠道咨询此方案。
相关工程问题
以下链接来自已建立的方案关系，可继续查看工程条件和评估准备。
资料由 BLNKK 根据公开来源整理。公司资料不代表已有对应方案；方案适用性仍需结合实际样品和工程条件确认。