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Y.I.C. Technologies Ltd.

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公开能力摘要

  • 近场磁场阵列扫描及频谱／空间比较系统。
工艺设备和窗口控制

其他名称: YIC Technologies · Y.I.C. Technologies

应用范围: 封装／板级 EMI 耦合调查

目录中的方案 · 1

工程问题中的候选方案

以下候选方案已收录于工程问题流程，可继续查看条件、来源和比较内容。

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可咨询 EMScanner 近场 EMI 扫描、演示与报价；请提供产品型号、被测对象及频谱分析仪配置。台湾、中国和美国窗口为原厂列出的代理；也可使用英国原厂表单。近场扫描用于排查干扰和预测试，不能替代正式 EMC 认证测试。 官方来源 ↗

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联系信息根据原厂公开资料整理；具体产品的负责人和服务范围，请向供应商确认。

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