X-Sinter P100 Micro-Punch 压力烧结平台
多颗尺寸或厚度不同的芯片进行银/铜烧结接合时,需要控制逐颗受力和高度差,并检查倾斜、空洞及接合层状态,不能只看整体加压条件。
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多颗尺寸或厚度不同的芯片进行银/铜烧结接合时,需要控制逐颗受力和高度差,并检查倾斜、空洞及接合层状态,不能只看整体加压条件。
用于功率电子制造中已完成烧结接合的质量检查,帮助定位需要进一步判读的界面区域;它是检查设备,不是形成接合的烧结设备。
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