DOWSIL TC-5888 薄界面层导热材料
处理器或功率模块的热界面若间隙、覆盖率或层厚控制不当,接触热阻可能偏高;需要在实际压力和封装形貌下比较 TIM 性能。
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查看联系信息 ↓应用范围: MPU/处理器/功率模块的热界面 · 微电子 lid/TIM1 粘接 · 初始芯片粘接材料比较
处理器或功率模块的热界面若间隙、覆盖率或层厚控制不当,接触热阻可能偏高;需要在实际压力和封装形貌下比较 TIM 性能。
比较微电子封装散热盖的粘接材料与固化工艺,评估粘接异常及胶层传热需求。
初始粘片空洞评估,需要控制接合层厚度、表面和固化条件。
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