Series 56i 键合工艺试验平台
引线键合异常需要比较键合参数、线弧及键合后的测试结果。
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应用范围: 封装线键合开发及小批试验
引线键合异常需要比较键合参数、线弧及键合后的测试结果。
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可咨询焊线设备、键合测试与工艺开发;请附型号、线材及测试需求。台湾、中国和美国窗口为原厂列出的代理,美国 TEC Associates 与 Boston Micro-Components 分别负责西海岸和东海岸;也可使用奥地利总部表单。 官方来源 ↗
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