半导体与封装可靠性认证计划服务
新器件、封装或材料变更需要按使用环境制定可靠性验证计划,将试验条件、样品流程和失效后分析连接起来,避免通用测试表遗漏项目风险。
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应用范围: PEM/铜线/器件/封装 · 引线键合封装/批次结构取样
新器件、封装或材料变更需要按使用环境制定可靠性验证计划,将试验条件、样品流程和失效后分析连接起来,避免通用测试表遗漏项目风险。
引线键合脱离或根部裂纹,需要核对原始形貌及接头结构,才能确定失效位置。
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