MRSI-S-HVM 多芯粒与光子芯片键合
评估多芯粒精密放置和键合条件,为初始贴附空洞建立工艺对比。
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评估多芯粒精密放置和键合条件,为初始贴附空洞建立工艺对比。
光纤/透镜固定前后的耦合损耗和位置变化,需要结合对准与固定工艺评估。
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