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研究候选・适用条件待确认

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测量与检测

CT 450G 光学形貌与热翘曲测量系统

候选工程用途:【大型 2.5D FCBGA 在冷却阶段发生翘曲反转】比较材料、堆叠与热历程对冷却曲率的影响。 【封装焊球共面性与初始接触】比较封装外部焊球高度与初始接触。 【微凸块高度不均与共面性】比较凸块制作或三维高度测量结果。

研究候选・适用条件待确认

官方搜索索引;原页与规格仍需确认。

研究核查日期: 2026-10-15

候选用途与工程问题

大型 2.5D FCBGA 冷却阶段翘曲反转

比较材料、堆叠与热历程对冷却曲率的影响。

需有升降温曲线、固化收缩与黏弹性资料;室温平坦度不能证明翘曲反转已排除。

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封装焊球共面性与初始接触

比较封装外部焊球高度与初始接触。

需区分外部焊球与内部微凸块;测量治具不可把自由形貌压平。

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微凸点高度不均与共面性

比较凸块制作或三维高度测量结果。

需确认间距、反射率、参考平面与重复性;制作服务不代表共面性已达标。

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