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Promex Industries

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研究候选・适用条件待确认

公司尚未认领;资料根据公开研究整理,不代表供应商背书或效果验证。

官方方案视频

等待官方提交

目录中的方案 · 3

补充这家公司的方案 →
封装结构与工程服务

客制芯片接合工艺开发

候选工程用途:【芯片接合层初始空洞与覆盖】比较焊料/导电胶接合层的初始覆盖与空洞。

研究候选・适用条件待确认

官方搜索索引;原页与规格仍需确认。

研究核查日期: 2026-10-15

候选用途与工程问题

芯粒接合层初始空洞与覆盖不足

比较焊料/导电胶接合层的初始覆盖与空洞。

只限芯片下方接合层;银烧结微孔与上方铜夹另列问题。

查看工程问题 →
封装结构与工程服务

雷射分割工艺开发

候选工程用途:【雷射分割热影响区损伤】比较雷射分割工艺与切边损伤。

研究候选・适用条件待确认

官方搜索索引;原页与规格仍需确认。

研究核查日期: 2026-10-15

候选用途与工程问题

激光切割热影响区损伤

比较雷射分割工艺与切边损伤。

需波长、脉冲、材料与截面验证;机械切割能力不能替代。

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封装结构与工程服务

晶圆薄化与机械切割服务

候选工程用途:【超薄晶圆背磨、搬运或解键合后出现崩边与裂片】比较载具支撑、薄化、搬运与解键合窗口。

研究候选・适用条件待确认

官方搜索索引;原页与规格仍需确认。

研究核查日期: 2026-10-15

候选用途与工程问题

超薄晶圆背磨、搬运或解键合后崩边与开裂

比较载具支撑、薄化、搬运与解键合窗口。

需确认晶圆厚度、尺寸、胶材与破片最早发生站点;芯片贴装设备只涵盖其搬运阶段。

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工程问题关联由 BLNKK 根据公开资料整理;不代表已确认样品适用性或处理效果。

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公开来源

联系信息

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联系信息仍在补充中,可先通过原厂网站或公开资料查找。

资料由 BLNKK 根据公开来源整理。公司资料不代表已有对应方案;方案适用性仍需结合实际样品和工程条件确认。