翘曲、形貌与应力测量Profilm3D 白光干涉表面形貌与弓曲测量以非接触方式量化晶圆、芯片、RDL、涂层或封装表面的台阶高度、粗糙度、波纹度、弓曲、形貌及缺陷三维轮廓,避免触针划伤软质表面。官方网站 ↗官方资料SELECTION GUIDEFilmetrics 薄膜与表面测量选型指南 ↗