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目前問題RF 封裝轉接與插入損耗
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RF 封裝轉接與插入損耗

先確認 BLNKK 對問題的理解,再掌握優先路線、候選方案與仍缺的條件。

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先確認問題理解,再決定要深入哪些方案。

3優先路線12候選方案10已整理來源

BLNKK 目前理解

請確認內容
結構/觀察位置
RF 封裝 transmission line、轉接與端口
觀察階段
被動 coupon 或封裝 S-parameter 驗證
待定位現象
頻率相依插入/回波損耗
工程決策
以去嵌入端口和轉接幾何決定材料、阻抗或轉接結構比較
仍需樣品證據
單一路徑的端口順序、校正平面及頻段如何追溯?

優先評估路線

各路線用途不同,可搭配使用
01
端口與治具模型審查量測端口/校正與實際治具模型,未確認時不解讀 DUT 損耗。
優先
02
實際轉接模型準備按實際轉接與材料疊構準備物理比較,尚待有效量測觀察。
優先
03
頻譜配對與量測準備按既定端口與頻段準備重複 S21/S11 對照,不宣告治具效應已移除。
優先

目前候選方案

尚需確認樣品適用性
查看全部12個候選方案
下一步:確認工程條件用 5 個關鍵條件調整評估順序,再選擇要比較的方案。
進入工程條件 →