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目前問題: 微凸塊或銅柱在高電流下出現 IR drop 與漸進電阻劣化返回此問題的方案地圖 →
相關方案/技術問答
技術問答BLNKK 編輯整理

如何分離微凸塊的可逆 IR drop 與漸進 EM 風險?

請先提供同步負載、溫度與位置化電性,再比較電熱模型與物理分析。

microbumpcopper pillarEMIR drop

問題背景與判讀重點

BLNKK 公開資料整理

本題不因高電流、溫度共變或永久開路就直接宣稱電遷移根因。

  • 逐路徑電壓/電阻與負載時間軸
  • 局部溫度、占空比與冷卻邊界
  • 互連幾何、材料、供電拓撲與失效位置
待補充的技術問答
  • 請說明如何區分可逆壓降、漸進阻值與永久開路。
  • 請列出 EM/IR 模型所需技術檔、幾何和校正量測。

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