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LOCTITE ECCOBOND UF 9000AE 大晶粒底部填膠

Henkel · 材料參數與介面設計

方案用途
在大型 flip-chip BGA 與銅柱封裝中,保護晶粒下方互連並評估熱失配造成的焊點應力與翹曲。材料導入需同時考慮填充品質與後續可靠度。
技術方式
液態環氧以毛細流動填入晶粒與載板之間,經熱固化形成支撐互連的保護層。原廠以低熱膨脹、低樹脂滲出與低晶粒翹曲作為產品特色。
適用範圍
原廠定位為大型 flip-chip BGA、銅柱及無鉛/low-k 應用的底部填膠,並公開 AI/HPC 先進封裝案例。能否適用仍需按晶粒尺寸、間隙、表面與固化設備試驗。
限制與待確認事項

以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議,並非原廠保證或必備資料清單。

適用邊界

低翹曲與可靠度是原廠產品聲明,不是使用者封裝的合格保證;260°C 指回焊能力,不能當成連續使用溫度。資料表的固化條件屬指引,仍須在實際製程驗證。

評估準備

BLNKK 建議準備晶粒尺寸、間隙/互連布局、表面處理、回焊與固化歷程,以及既有空洞或翹曲資料。先定義填充、可靠度與返修需求,再安排樣品評估。

向供應商確認

請 Henkel 確認目前供應規格、儲存/解凍條件、點膠與固化建議及材料相容性。針對實際封裝,約定空洞、翹曲、溫循與返修的評估方法。

公開依據
Henkel 產品頁與 2024 年 11 月資料表列出毛細流動、低 CTE 及 260°C 無鉛回焊能力;2024 年新聞稿說明商用化及原廠試驗案例。資料表註明技術資料供參考,並非保證規格。

補充參考資料

聯絡供應商

查看公司聯絡資訊,透過官方管道詢問此方案。

相關工程問題

以下連結來自已建立的方案關係,可接續查看工程條件與評估準備。

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。