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ALSI LASER1206 多光束雷射分割與開槽

ASMPT SEMI Solutions · 製程設備與溫度控制

方案用途
雷射分割或開槽需比較實際疊構的熱影響與切割品質。LASER1206 將多光束加工與晶圓處理整合,供製程評估。
技術方式
採多光束 UV 雷射及 Matrix-DOE 技術,配置晶圓塗佈、清潔與乾燥。原廠區分 UV 分割與超短脈衝開槽流程。
適用範圍
面向先進封裝及功率元件晶圓。UV-Dicing Plus 與 UV-USP-Grooving 的材料、厚度及用途清單不同,須按配置與疊構確認。
限制與待確認事項

以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議,並非原廠保證或必備資料清單。

適用邊界

開槽與分割的配置/厚度範圍不能混用,平面定位精度也不等於切槽尺寸精度。其他材料或型號的結果不能推定本疊構無熱損傷或良率已確認。

評估準備

BLNKK 建議準備材料疊構、厚度、切割道與金屬圖、承載及塗佈資料。安排切槽、熱影響區、側壁、晶粒強度與電性的同一樣品對照。

向供應商確認

確認實際雷射波長、脈衝、光束配置、掃描與適用厚度,以及塗佈/清潔條件。取得本疊構試切資料,核對損傷與尺寸的量測方法和驗收條件。

公開依據
具名產品頁公開流程與應用,2025 年 9 月發布另確認 LASER1206。原廠低熱影響陳述並非使用者樣品的零損傷證明。

補充參考資料

聯絡供應商

查看公司聯絡資訊,透過官方管道詢問此方案。

相關工程問題

以下連結來自已建立的方案關係,可接續查看工程條件與評估準備。

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。