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Dynasolve 219 暫時接合矽膠移除

Merck Electronics · 材料參數與介面設計

方案用途
針對已確認為固化矽膠的暫時接合殘留,準備清洗與表面相容性比較。
技術方式
Dynasolve 219 以低表面張力提高滲入能力,原廠定位於暴露面積較小的固化矽膠移除。
適用範圍
面向矽膠型暫時接合材料;實際膠材、固化狀態、殘留形貌及基板疊層仍需確認。
限制與待確認事項

以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議,並非原廠保證或必備資料清單。

適用邊界

不能由此用途推定可移除任意聚合物,或對所有金屬/介電層相容。外觀乾淨也不等於符合下一道接合的表面要求。

評估準備

BLNKK 建議準備膠種、固化歷程、殘留厚度/暴露面積、表面材料及後段要求,以試片比較移除程度、材料變化與殘留。

向供應商確認

確認最新 TDS/SDS、適用膠材和建議製程條件,討論浸泡/沖洗/乾燥及實際疊層相容性。另確認後段表面驗證和材料供應。

公開依據
官方產品描述明列固化矽膠與暫時接合用途,但未提供本疊層的清洗配方、條件或相容性資料。

聯絡供應商

查看公司聯絡資訊,透過官方管道詢問此方案。

相關工程問題

以下連結來自已建立的方案關係,可接續查看工程條件與評估準備。

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。