LUMOS II FT-IR 殘留材料辨識
Bruker · 翹曲、形貌與應力量測
- 方案用途
- 殘留物與膠材的化學組成不明時，可先比較紅外光譜，縮小後續清洗與材料查證的方向。
- 技術方式
- LUMOS II 以紅外吸收光譜進行局部量測或化學成像；FT-IR 配置可採 ATR、穿透或反射模式。
- 適用範圍
- 適用於光譜訊號可辨識的聚合物、薄膜與有機污染；量測模式、偵測器及樣品可達性須配合。
- 限制與待確認事項
以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議，並非原廠保證或必備資料清單。
適用邊界基材、混合物或老化可能使光譜難以唯一辨識；ATR 接觸也可能影響樣品。FT-IR、FPA 與紅外雷射成像配置的波段／模式不同，光譜結果不直接等於潔淨度合格。
評估準備BLNKK 建議準備殘留位置與尺寸、基材資訊、未污染對照及已知膠材／固化參考，並說明樣品是否需保留。
向供應商確認請確認配置、波段與模式、參考光譜庫、ATR 接觸條件，以及是否需要另做定量校正或搭配其他分析。
- 公開依據
- 官方產品頁列出污染與聚合物分析；2020 年網路研討會頁介紹未知污染案例，但本次未觀看錄影。
補充參考資料
聯絡供應商
查看公司聯絡資訊，透過官方管道詢問此方案。
相關工程問題
以下連結來自已建立的方案關係，可接續查看工程條件與評估準備。
資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案；方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。