HZ-15 電場／磁場近場探棒

Rohde & Schwarz · 電磁干擾量測

方案用途: 封裝周圍或板上疑似電磁耦合時，可用局部近場掃描找出相對訊號較強的位置與相關頻率。
技術方式: HZ-15 的電場與磁場被動探棒，搭配頻譜分析儀或相容量測設備，掃描可接近的板、模組與導體。
適用範圍: 適用於原廠所列頻率範圍內的 EMI 除錯；需控制探棒位置、方向、距離與元件運作狀態。
限制與待確認事項: 以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議，並非原廠保證或必備資料清單。
適用邊界
手動近場訊號不等於法規輻射發射值，也不能保證定位封裝內部晶粒。HZ-16 前置放大器為選配，應用卡中的分析儀是搭配範例。
評估準備
BLNKK 建議整理疑似頻率、運作模式及可接近區域，固定掃描距離、方向與增益，保存背景和不同運作狀態的比較紀錄。
向供應商確認
確認適合的探棒、接收設備與放大器配置，以及弱訊號、背景干擾和掃描重複性對本樣品解讀的影響。
公開依據: 現行產品頁列出探棒配置；2016 年 6 月兩頁應用卡提供板／模組掃描及背景與運作訊號比較範例。

補充參考資料

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