HZ-15 電場/磁場近場探棒
封裝周圍或板上疑似電磁耦合時,可用局部近場掃描找出相對訊號較強的位置與相關頻率。
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應用範圍: 封裝周邊/PCB/模組 EMI · RF 封裝/轉接試片 · 可接近供電 rail/負載參考 · 可接近 RF 激發端口
封裝周圍或板上疑似電磁耦合時,可用局部近場掃描找出相對訊號較強的位置與相關頻率。
RF 封裝與轉接的損耗比較需要一致的端口校準與參考面,避免把治具差異當成方案差異。
供電暫態評估需要把 rail 波形與負載事件放在共同時間基準下比較,辨識異常出現時點。
封裝電磁耦合比較需要已知、可重複的 RF 激發,觀察受擾端在相同條件下的變化。
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