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THB-111N RDL 銅電鍍負型光阻

JSR · 材料參數與介面設計

方案用途
比較 RDL 銅電鍍的圖案開口與去膠品質,協助釐清短路相關製程因素。
技術方式
負型 THB 光阻的丙烯酸酯基團在曝光後交聯,再以 TMAH 顯影形成電鍍開口。
適用範圍
THB-111N 用於 WLCSP/SiP 的 RDL 銅電鍍;型號表列膜厚 5–15 µm。
限制與待確認事項

以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議,並非原廠保證或必備資料清單。

適用邊界

此光阻不是永久介電層,公開資料也不保證特定線寬無短路。不能把系列的 5–90 µm 範圍或其他牌號的凸塊用途套用於 THB-111N。

評估準備

BLNKK 建議整理膜厚、線寬/間距、曝光與顯影條件、開口殘膠影像、種子層、鍍液及去膠結果。

向供應商確認

確認可用製程窗口、鍍液與基材相容性、開口輪廓及去膠條件,並討論如何區分光阻殘留與其他短路原因。

公開依據
JSR Micro 產品頁明列 THB-111N 的銅配線用途,並區分其他 THB 牌號的膜厚與凸塊應用。

聯絡供應商

查看公司聯絡資訊,透過官方管道詢問此方案。

相關工程問題

以下連結來自已建立的方案關係,可接續查看工程條件與評估準備。

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。