TITAN RF 探針與校準端口接觸

MPI Corporation · 幾何與電性量測

方案用途: RF 損耗比較，需要穩定端口接觸與一致的校準參考面，才能區分待測路徑和測試配置的影響。
技術方式: TITAN 以 50 Ω MEMS 接觸端連接外部 RF 儀器，搭配符合探針配置與 pitch 的校準標準。
適用範圍: 適用於可接觸的 RF 測試墊；頻帶、pad 材料／幾何及單端／差動配置須依所選型號確認。
限制與待確認事項: 以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議，並非原廠保證或必備資料清單。
適用邊界
探針本身不獨立量測 S 參數，也不能直接接觸埋藏走線。單一型號頻寬不能套用全系列；校準不等於完成封裝去嵌入。
評估準備
BLNKK 建議整理頻帶、port／pad 配置、pitch、表面金屬、VNA／線纜、校準方法與預定參考面。
向供應商確認
請確認型號、接觸條件、相配標準與參數檔，並討論重複接觸、校準驗證及封裝路徑所需的去嵌入。
公開依據: MPI 產品頁說明接觸結構；配件頁明列 AC 系列校準基板與探針配置／pitch 的匹配。

補充參考資料

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