Diamondx 可配置電源與負載電性比較
Cohu · 幾何與電性量測
- 方案用途
- 供電瞬態異常需要可重複的元件激發條件,才能比較電性反應並追查壓降來源。
- 技術方式
- Diamondx 依配置提供可程式電源、電壓/電流、數位與類比測試資源,以測試程式控制激發及量測。
- 適用範圍
- 適用於可接觸供電端口、可控制測試模式的 IC;須選擇符合激發與量測需求的模組及治具。
- 限制與待確認事項
以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議,並非原廠保證或必備資料清單。
適用邊界各模組的能力不同;DC 額定值不代表局部晶粒壓降的擷取能力。插座與載板寄生、量測參考點及頻寬仍需驗證。
評估準備BLNKK 建議整理供電端口、測試模式、電壓/電流與脈衝需求、載板連接,以及可供對照的異常波形。
向供應商確認確認電源與擷取模組、時序同步、實際暫態頻寬及治具影響,並討論如何與獨立波形量測交叉核對。
- 公開依據
- Cohu 產品頁分別說明多種電源、V/I 與波形資源,部分模組提供脈衝、暫態偵測或數位化擷取。
聯絡供應商
查看公司聯絡資訊,透過官方管道詢問此方案。
相關工程問題
以下連結來自已建立的方案關係,可接續查看工程條件與評估準備。
資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。
