T-Core 高功率 IC 主動溫控測試系統
高功率 IC 在通電測試時會自熱；溫度偏離設定條件可能改變電性結果，需要控制並記錄熱狀態，才能判讀功能或參數異常。
Cohu
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- 半導體測試分選設備、測試介面、檢查與資料分析
應用範圍: CPU／GPU／ASIC 加速器／網路處理器 · 可觀察 IC 電源端口 · WLCSP 外部接點
目錄中的方案 · 3
Diamondx 可配置電源與負載電性比較
供電瞬態異常需要可重複的元件激發條件，才能比較電性反應並追查壓降來源。
3D Flex 焊球／凸塊高度與共面性檢查
WLCSP 外部焊球或凸塊的高度分布與共面性，需要與封裝本體形貌一起檢查。
工程問題中的候選方案
以下候選方案已收錄於工程問題流程，可接續查看條件、來源與比較內容。
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