16502 四線式互連電阻比較
Chroma ATE · 幾何與電性量測
- 方案用途
- 比較 RDL 通孔或串接測試鏈電阻時，需要降低引線與接觸壓降對結果的影響。
- 技術方式
- 16502 以四線式接法量測低電阻，可依需求選擇 DC、正負脈衝或低激發的 dry-circuit 模式。
- 適用範圍
- 適用於可分別接觸電流與感測端、且激發條件與量測範圍經驗證的導體或互連試片。
- 限制與待確認事項
以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議，並非原廠保證或必備資料清單。
適用邊界串接鏈電阻不能自動拆成單一通孔電阻，最低顯示範圍也不等於單孔解析能力。接觸、熱電勢與溫升仍需控制。
評估準備BLNKK 建議整理試片接點圖、串接數量、預期電阻、可接受測試電流、治具及溫度記錄。
向供應商確認確認四線式接法、歸零與重複性、脈衝／dry-circuit 條件，以及溫度補償方法和所需選配。
- 公開依據
- Chroma 說明四線式量測、脈衝熱電勢消除與溫度補償；溫度探棒及多通道掃描器為選配。
聯絡供應商
查看公司聯絡資訊，透過官方管道詢問此方案。
相關工程問題
以下連結來自已建立的方案關係，可接續查看工程條件與評估準備。
資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案；方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。