3210-A／3200 高功率封裝系統級測試
在系統級測試中驗證大型高功率 IC 的功能表現、接觸與熱管理，再比較工程及量產條件。
Chroma ATE
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- 功率半導體測試、老化測試、可靠度與自動化測試
應用範圍: 高功率 IC 封裝 · 可接觸 RDL via／chain 結構 · 去耦電容／電源電感
目錄中的方案 · 3
16502 四線式互連電阻比較
比較 RDL 通孔或串接測試鏈電阻時，需要降低引線與接觸壓降對結果的影響。
11050 去耦元件阻抗量測
比較去耦元件時，可量測阻抗與損耗，提供供電網路分析所需的元件資料。
工程問題中的候選方案
以下候選方案已收錄於工程問題流程，可接續查看條件、來源與比較內容。
公開來源
聯絡資訊
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台灣 · 總部
Chroma ATE Inc. — Taoyuan Headquarters
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台灣 · 原廠據點
Chroma ATE Inc. — Hsinchu Branch Office
官方來源 ↗查閱日期
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