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11050 去耦元件阻抗量測

Chroma ATE · 工程量測與失效分析

方案用途
比較去耦元件時,可量測阻抗與損耗,提供供電網路分析所需的元件資料。
技術方式
11050 系列以交流 LCR 量測被動元件,提供阻抗相關參數及開路/短路歸零、負載校正功能。
適用範圍
適用於可接觸的電容、電感等元件;11050 頻帶為 1 kHz–10 MHz,其他型號及偏壓選配需分別確認。
限制與待確認事項

以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議,並非原廠保證或必備資料清單。

適用邊界

最高 30 MHz 屬於 11050-30M,不能套用到原 11050;偏壓源也有自身條件。元件 LCR 結果不等於完整封裝/板級 PDN 已驗證。

評估準備

BLNKK 建議整理元件、工作頻帶、訊號振幅、偏壓與溫度,並準備治具校正和寄生影響的對照資料。

向供應商確認

確認型號與頻帶、偏壓源及治具相容性,以及校正、低阻抗量測誤差和資料匯出方式。

公開依據
Chroma 官方頁列出各型號頻帶、量測參數、校正與偏壓配置,並說明電容 ESR 和電源電感用途。

聯絡供應商

查看公司聯絡資訊,透過官方管道詢問此方案。

相關工程問題

以下連結來自已建立的方案關係,可接續查看工程條件與評估準備。

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。