Infinity 同軸 RF 探針端口與串擾量測準備

FormFactor · 幾何與電性量測

方案用途: 中介層串擾比較需要區分被測結構與探針／治具本身的耦合。
技術方式: Infinity 以薄膜與同軸結構限制電場，提供外露焊墊的 RF 接觸。
適用範圍: 適用於可接觸的測試結構；需匹配焊墊排列、間距、連接器及量測頻帶。
限制與待確認事項: 以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議，並非原廠保證或必備資料清單。
適用邊界
探針不會自行取得多埠 S 參數或判定串擾根因。接觸、探針耦合與去嵌入會影響結果；其他 Infinity 型號的頻率規格不能通用。
評估準備
BLNKK 建議整理焊墊圖、目標頻帶、埠數、儀器／纜線配置、校準結構及預定參考面。
向供應商確認
請確認探針拓樸與間距、接觸力／痕跡、可用頻帶，以及校準、去嵌入與重複性驗證方式。
公開依據: 官方產品頁說明薄膜／同軸技術、鎳合金針尖與多種探針配置，並列出耦合控制特性。

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