EAG TOF-SIMS 殘留分子分析服務
Eurofins EAG Laboratories · 工程量測與特性分析
- 方案用途
- 協助辨識脫載後表面殘留的分子與元素訊號，對照可能的材料來源。
- 技術方式
- 以脈衝一次離子激發二次離子，取得質譜與表面分布影像；深度分析另配合離子濺射。
- 適用範圍
- 可分析有機／無機材料與導體／絕緣體表面；殘留調查須核對真空相容性與取樣狀態。
- 限制與待確認事項
以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議，並非原廠保證或必備資料清單。
適用邊界基質會影響離子產率，強度不能直接視為濃度；低劑量靜態分析與濺射深度分析的表面影響不同，結果也不等於清潔相容性。
評估準備BLNKK 建議保留原始表面與處理／包裝紀錄，準備同基材正常對照及已知黏著／脫載材料參考。
向供應商確認確認收樣與保存方式、靜態或深度分析、參考樣品及校正需求，以及可交付的質譜、影像與判讀範圍。
- 公開依據
- EAG 官方頁與 2022 年修訂的三頁方法文件說明服務、基質效應及定量限制。
補充參考資料
聯絡供應商
查看公司聯絡資訊，透過官方管道詢問此方案。
相關工程問題
以下連結來自已建立的方案關係，可接續查看工程條件與評估準備。
資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案；方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。