Neptune C+ 點膠覆蓋與邊緣檢查
Koh Young Technology · 工程量測與特性分析
- 方案用途
- 點膠後的覆蓋與外緣膠腳需要檢查，避免侵入鄰件或禁入區。
- 技術方式
- Neptune C+ 以低同調干涉與近紅外光量測可達膠材層，檢查覆蓋、厚度與一致性。
- 適用範圍
- 官方列出底填、環氧與接合膠，涵蓋透明、半透明及含色料材料；實際配方與濕／乾狀態仍須試樣確認。
- 限制與待確認事項
以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議，並非原廠保證或必備資料清單。
適用邊界光學可達的外緣資料不能證明不透明晶粒下已完整填充，也不直接證明接合強度。
評估準備BLNKK 建議準備實際配方、點膠與固化階段樣本、禁入區圖，以及需判定的覆蓋與膠腳範圍。
向供應商確認請確認該配方的可測層與厚度判讀、邊緣判定方式，以及是否需要翻轉等選配。
- 公開依據
- 原廠技術正文說明多流體層量測、點膠檢查用途及選配的上下表面翻轉機構。
聯絡供應商
查看公司聯絡資訊，透過官方管道詢問此方案。
相關工程問題
以下連結來自已建立的方案關係，可接續查看工程條件與評估準備。
資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案；方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。