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Koh Young Technology

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公開能力摘要

  • 3D 光學檢查、焊接與組裝製程分析
量測、檢查與失效定位製程設備與窗口控制可靠度驗證與失效分析

應用範圍: micro solder/flux/bump/高密度基板 · 晶粒位置量測準備 · Underfill 外緣與 keepout

目錄中的方案 · 3

工程問題中的候選方案

以下候選方案已收錄於工程問題流程,可接續查看條件、來源與比較內容。

公開來源

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透過以下官方管道,自行聯絡供應商。

一般詢問表單可選擇業務或其他詢問,不處理技術支援或投資人關係;此兩類請使用官網各自的入口。台灣分公司目前公開信箱,未在查核頁面列出電話。 官方來源 ↗

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窗口資料依原廠公開資訊整理;特定產品的負責窗口與服務範圍,請向供應商確認。

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。