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CLIP chip-last 面板級 fan-out 封裝

Powertech Technology Inc. (PTI) · 封裝結構與變形補償

方案用途
高價值或熱敏感晶粒若先嵌入面板,再進行 RDL 製程,可能承擔後段加工的損失。CLIP 提供先形成並檢查 RDL、再整合晶粒的架構選項。
技術方式
採 chip-last 流程,先形成 RDL,再整合晶粒,以已知良好的 RDL 進行組裝。原廠列出嵌入被動元件及三顆以上晶粒整合能力;具體堆疊與組裝順序需依設計確認。
適用範圍
原廠 CLIP 用途包含 CPU、GPU、FPGA 及熱敏感元件;實際線寬/線距與堆疊需依設計確認。
限制與待確認事項

以下為 BLNKK 根據公開資料整理的評估建議,並非原廠保證或必備資料清單。

適用邊界

流程改變不能重新定位已埋入晶粒,也不能保證消除翹曲或良率損失;公開能力不代表所有設計均適用。

評估準備

BLNKK 建議準備現行流程與晶粒位移資料、晶粒與接腳配置、RDL 設計及架構轉換成本與驗證計畫。

向供應商確認

請確認 CLIP 設計規則、已知良好 RDL 的判定方式、組裝順序,以及目標堆疊的翹曲與可靠度資料。

公開依據
官方 CLIP 頁列出最小 RDL 線寬/線距≥2/2µm;2022年法人說明會簡報亦介紹已知良好 RDL 的流程。

補充參考資料

聯絡供應商

查看公司聯絡資訊,透過官方管道詢問此方案。

相關工程問題

以下連結來自已建立的方案關係,可接續查看工程條件與評估準備。

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案;方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。