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研究候選・適用條件待確認

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製程設備與窗口控制

UX-5 面板投影曝光設備

候選工程用途:【RDL 製造後線間短路】檢查微影、金屬線路與蝕刻殘留造成的初始短路。

研究候選・適用條件待確認

官方搜尋索引;原頁與規格仍需確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

RDL 製造後線間短路

檢查微影、金屬線路與蝕刻殘留造成的初始短路。

AOI 不一定能驗出埋藏短路;需電性與缺陷位置對照。

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製程設備與窗口控制

DLT 先進封裝微影設備

候選工程用途:【RDL 製造後線間短路】檢查微影、金屬線路與蝕刻殘留造成的初始短路。

研究候選・適用條件待確認

官方搜尋索引;原頁與規格仍需確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

RDL 製造後線間短路

檢查微影、金屬線路與蝕刻殘留造成的初始短路。

AOI 不一定能驗出埋藏短路;需電性與缺陷位置對照。

查看工程問題 →

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