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E&R Engineering|鈦昇科技股份有限公司

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研究候選・適用條件待確認

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製程設備與窗口控制

R-300R 晶圓微波電漿除膠設備

候選工程用途:【RDL 層間接觸初始高電阻】比較通孔底部清潔、金屬種子層與初始接觸。

研究候選・適用條件待確認

官方搜尋索引;原頁與規格仍需確認。

研究查核日期: 2026-10-15

候選用途與工程問題

RDL 層間接觸初始高電阻

比較通孔底部清潔、金屬種子層與初始接觸。

清洗/除膠須確認介電材料及金屬損傷;需 Kelvin 或鏈式電阻驗證。

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工程問題關聯由 BLNKK 依公開資料整理;不代表已確認樣品適用性或處理成效。

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