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Y.I.C. Technologies Ltd.

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公開能力摘要

  • 近場磁場陣列掃描與頻譜／空間比較系統。
製程設備與窗口控制

其他名稱: YIC Technologies · Y.I.C. Technologies

應用範圍: 封裝／板級 EMI 耦合調查

目錄中的方案 · 1

工程問題中的候選方案

以下候選方案已收錄於工程問題流程，可接續查看條件、來源與比較內容。

公開來源

聯絡資訊

透過以下官方管道，自行聯絡供應商。

可詢問 EMScanner 近場 EMI 掃描、示範與報價；請提供產品型號、待測物與頻譜分析儀配置。台灣、中國與美國窗口為原廠列出的代理；亦可使用英國原廠表單。近場掃描用於除錯與預先評估，不能取代正式 EMC 認證測試。 官方來源 ↗

更多地區聯絡方式 (1)

窗口資料依原廠公開資訊整理；特定產品的負責窗口與服務範圍，請向供應商確認。

供應商更新與認領 →

資料由 BLNKK 依公開來源整理。公司資料不代表已有對應方案；方案適用性仍需依實際樣品與工程條件確認。