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ERS electronic

能力與應用

翹曲、形貌與應力量測、製程設備與溫度控制、封裝結構與變形補償、可靠度驗證與失效分析

翹曲、形貌與應力量測製程設備與溫度控制封裝結構與變形補償可靠度驗證與失效分析

01

相關方案

02

相關問題

翹曲、形貌與應力量測

使用 ERS Wave3000 比較重構晶圓製程前後的翹曲時,應如何設定承載方式、edge exclusion、溫度穩定時間與重複量測,才能區分真實形貌變化和量測偏差?

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