可靠度驗證與失效分析先進封裝多技術失效分析與可靠度驗證針對熱循環、回焊或服役後出現的分層、裂紋、void、電性漂移與界面劣化,從非破壞定位一路追查到截面和材料根因。官方網站 ↗官方資料APPLICATION GUIDEIC 封裝測試與多技術分析 ↗SERVICE NOTESAT 封裝分層、裂紋與 void 分析 ↗