分区热源与 chiplet 配置的热测试载具
官方 TTV16 提供分区热源、晶粒上温度感测与 monolithic/chiplet 配置。
所需资料、限制与来源
所需资料
目标晶粒尺寸、层序与可取得的功率分布范围;目标 TIM/lid/载板及冷却界面;代理热源位置、感测位置与可保留的验证点
主要限制
核对目标尺寸、功率分布、感测位置、堆叠与冷却界面。;热测试载具须与实际尺寸、堆叠、功率分布及界面对照;不替代功能晶片或产品可靠度资格。
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官方技术摘要已核对 · 热测试载具须与实际尺寸、堆叠、功率分布及界面对照;不替代功能晶片或产品可靠度资格。
