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Neptune CT 与 Voyager 三维分析

Lumafield · 测量与检测

研究候选・适用条件待确认

原厂公开页面;样品适用性尚未确认。

研究核查日期: 2026-10-15
方案用途
候选工程用途:【空洞三维分布与热风险判定】量化既有焊料/导电胶空洞的三维位置与形状。 【Flip-chip 回流焊接点桥接】比较贴装/回流焊条件与桥接位置。
技术方式
来源尚未提供完整机制或工艺细节,请向供应商确认。
适用范围
候选工程用途:【空洞三维分布与热风险判定】量化既有焊料/导电胶空洞的三维位置与形状。 【Flip-chip 回流焊接点桥接】比较贴装/回流焊条件与桥接位置。
限制与待确认事项
【空洞三维分布与热风险判定】CT 须与配对热测试结合;解析度受样品限制,不能直接给通用允收百分比。 【Flip-chip 回流焊接点桥接】需确认焊料体积、凸块间距与电性;不能直接套用 BGA 板级影像结论。 需由供应商确认样品、规格及承接条件;未验证改善效果。
公开依据
官方来源列出「Neptune CT 与 Voyager 三维分析」。
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补充参考资料

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候选用途与工程问题

相同空洞比例,热风险为什么不同?

量化既有焊料/导电胶空洞的三维位置与形状。

CT 须与配对热测试结合;解析度受样品限制,不能直接给通用允收百分比。

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倒装芯片回流焊接点桥连

比较贴装/回流焊条件与桥接位置。

需确认焊料体积、凸块间距与电性;不能直接套用 BGA 板级影像结论。

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资料由 BLNKK 根据公开来源整理。公司资料不代表已有对应方案;方案适用性仍需结合实际样品和工程条件确认。