三维 CT 与分层定位
官方描述电子与半导体三维 CT,包括焊料空洞与内部结构检查。
所需资料、限制与来源
所需资料
同座标的 2D/3D 影像及分割不确定度;接合层厚度、热源分布与材料热参数;相同功率、冷却边界及良品对照的热测试
主要限制
确认接合层对比、解析度、服务可用性及分割误差。;检出及三维重建不等于已建立热风险门槛;样品尺寸、金属假影及有效解析度仍需验证。
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官方技术摘要已核对 · 检出及三维重建不等于已建立热风险门槛;样品尺寸、金属假影及有效解析度仍需验证。
