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相同空洞比例,热风险为什么不同?

预期交付:解析度与假影可追溯的三维空洞/位置资料

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先准备:是否已备妥:同座标的 2D/3D 影像及分割不确定度?

下一项待补:是否已备妥:同座标的 2D/3D 影像及分割不确定度?

此提示协助准备评估;方案与样品适用性仍需个别确认。

这项任务的候选方案

2 项 · 最多比较三项
RX Solutions

三维 CT 与分层定位

官方描述电子与半导体三维 CT,包括焊料空洞与内部结构检查。

所需资料、限制与来源

所需资料
同座标的 2D/3D 影像及分割不确定度;接合层厚度、热源分布与材料热参数;相同功率、冷却边界及良品对照的热测试

主要限制
确认接合层对比、解析度、服务可用性及分割误差。;检出及三维重建不等于已建立热风险门槛;样品尺寸、金属假影及有效解析度仍需验证。

RX Solutions · 查看来源 ↗
官方技术摘要已核对 · 检出及三维重建不等于已建立热风险门槛;样品尺寸、金属假影及有效解析度仍需验证。

Lumafield

电子 CT/孔隙量化路线

官方描述三维电子组件检查与焊点孔隙量化。

所需资料、限制与来源

所需资料
同座标的 2D/3D 影像及分割不确定度;接合层厚度、热源分布与材料热参数;相同功率、冷却边界及良品对照的热测试

主要限制
电子/BGA 能力不可直接视为可解析微凸块或任意 die attach。;电子/BGA 检查不能直接外推至微凸块或混合键合;不宣称空洞对本封装热阻的影响已验证。

Lumafield · 查看来源 ↗
官方技术摘要已核对 · 电子/BGA 检查不能直接外推至微凸块或混合键合;不宣称空洞对本封装热阻的影响已验证。

这项任务需要什么专长?

CT 测量与影像分析专家

可讨论的交付:解析度与假影可追溯的三维空洞/位置资料

目前尚无公开符合此任务的独立专家资料。可先准备委托范围,或向候选供应商询问负责此任务的技术专家。

准备专家询问 →
确认问题范围与相近问题

空洞面积率是否足以作本产品的判定依据,还是需加入三维分布与配对热测试?

适用:既有空洞的三维量化与配对热风险研究;判定量与检查方法的适用性

其他情境:直接从 CT 给通用允收百分比;把银烧结微孔与巨观空洞混为同一分类;宣称未检出就完全无空洞

下载目前任务与评估准备
企业使用效益工具(选填)

供企业自行比较准备工时;不影响方案搜寻或工程任务。数值只留在此页。

其他供应商候选 · 6

根据公开研究整理的候选用途;尚未纳入本题条件判断,请确认样品、规格与承接条件。